Favre S., Ariosa D., Faccio R., Yelpo C., Mazini M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, thin films, fabrication, PLD process, strain effects, critical temperature, X-ray diffraction, lattice parameter, elastic behavior, resistive transition, microstructure, Raman spectroscopy, experimental results
Materials Chemistry Physics, 2021, v.266, N , p.124507
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.